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Couloscope CMS2 STEP庫侖法多鍍層測厚儀

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Couloscope CMS2 STEP庫侖法多鍍層測厚儀

Couloscope CMS2 STEP庫侖法多鍍層測厚儀

COULOSCOPE CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差,使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測量印刷線路板上剩余純錫的厚度,庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。這個方法主要應用于檢查電鍍層的質量,現在也適用于監控印刷線路板剩余純錫的厚度。

COULOSCOPE® CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差
 使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測量印刷線路板上剩余純錫的厚度,庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。這個方法主要應用于檢查電鍍層的質量,現在也適用于監控印刷線路板剩余純錫的厚度。
 COULOSCOPE® CMS2 STEP
 CMS2 STEP 的特征是STEP測試功能(同時測定厚度和電位差)。 在多層鎳的質量監控中用于對鍍層厚度和電位差的標準化STEP測試 (根據ASTM B764-94和DIN 50022)。鍍層厚度根據庫侖法得出, 而電位差則由一個鍍有AgCl的銀電極得到。
 COULOSCOPE® CMS2
 CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度,包括多鍍層結構; 它的工作原理是根據陽極溶解的庫侖法 (DIN EN ISO 2177)。 簡單的操作和菜單化的操作指導使CMS2成為電鍍行業生產監控和質量檢驗理想的解決方法。設備為不同的鍍層結構配備了近100個預留的應用程式(例如,鐵上鍍鋅,黃銅上鍍鎳), 以及各種電解速度(例如1, 2, 5, and 10 μm/min)。這些應用程式適用于多鍍層系統。
 COULOSCOPE® CMS2的特征
 大尺寸高分辨率的彩色顯示器
 簡單的操作和圖示的用戶指導
 使用V18支架實現半自動化測量
 電解速度和測量面積的簡單選擇 (0.1 ----- 50 μm/min) 和(0.6 ----- 3.2 mm Ø)
 電壓曲線圖形顯示
 圖形和統計分析 多語言和計量單位可供選擇
 COULOSCOPE® CMS2 STEP的特殊功能
 同時測量鍍層厚度和電位差
 銀參比電極的簡單準備
 可調節的電解電流
 COULOSCOPE® CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位系統概述 一個測量系統包括COULOSCOPE® CMS2或CMS2 STEP和一個有測量槽的支架(例如:STEP測量槽)。各種測量臺設計適合不同的應用。 可選配件 大量的可選配件使測量工作更便利,確保了安全的儲存并為固定工件提供輔助。
 
 校準 校準時會產生一個修正系數 。這是由于測量槽密封墊子的制造公差、鍍層密度的變化、合金成分的變化,需要該修正系數。 

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